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X 射線熒光分析儀:原理與核心公式解析

更新時間:2025-12-17      點擊次數:241

X 射線熒光分析儀(XRF)是基于熒光 X 射線發射原理的元素分析儀器,廣泛應用于地質、冶金、環保等領域的元素定性與定量檢測。其核心原理是利用高能 X 射線激發樣品原子,使原子內殼層電子躍遷,外層電子填充空位時釋放特征熒光 X 射線,通過檢測熒光的能量和強度實現元素識別與含量計算。

一、基本原理

  1. 激發過程:入射 X 射線(初級 X 射線)能量需大于樣品原子內殼層(如 K、L 層)電子的結合能,才能將電子擊出形成空穴。例如,K 層電子被擊出后,L 層電子會躍遷至 K 層,釋放的能量以熒光 X 射線形式輻射。

  2. 熒光特性:熒光 X 射線的能量具有元素性,滿足公式 \( E = h\nu = \frac \)(\( h \) 為普朗克常數,\( \nu \) 為頻率,\( c \) 為光速,\( \lambda \) 為波長),通過檢測能量或波長可定性判斷元素種類;熒光強度與元素含量正相關,是定量分析的基礎。二、核心公式

  3. 莫塞萊定律(定性核心):描述元素原子序數(\( Z \))與熒光 X 射線波長(\( \lambda \))的關系,公式為:\( \sqrt} = K(Z - \sigma) \)

其中,\( K \) 為與躍遷殼層相關的常數(如 K 層躍遷 \( K \approx 4.96??10^7 \, \text^ \)),\( \sigma \) 為屏蔽常數(與元素種類相關,約 1~2)。通過測量 \( \lambda \) 可反推 \( Z \),實現元素定性。
  1. 定量分析公式:熒光強度(\( I \))與元素含量(\( w \))的線性關系為:\( I = k \cdot w \cdot \frac \)

其中,\( k \) 為儀器常數(與激發源、檢測效率相關),\( \mu_0 \) 為初級 X 射線的質量吸收系數,\( \mu \) 為樣品對熒光 X 射線的質量吸收系數。實際應用中需通過標準樣品校準 \( k \) 值,修正基體效應影響。
XRF 的優勢在于快速無損檢測,其原理與公式的結合,構成了元素分析的核心邏輯,為各行業提供了高效準確的檢測解決方案。


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