
X 射線熒光分析儀(XRF)是基于熒光 X 射線發射原理的元素分析儀器,廣泛應用于地質、冶金、環保等領域的元素定性與定量檢測。其核心原理是利用高能 X 射線激發樣品原子,使原子內殼層電子躍遷,外層電子填充空位時釋放特征熒光 X 射線,通過檢測熒光的能量和強度實現元素識別與含量計算。
激發過程:入射 X 射線(初級 X 射線)能量需大于樣品原子內殼層(如 K、L 層)電子的結合能,才能將電子擊出形成空穴。例如,K 層電子被擊出后,L 層電子會躍遷至 K 層,釋放的能量以熒光 X 射線形式輻射。
熒光特性:熒光 X 射線的能量具有元素性,滿足公式 \( E = h\nu = \frac \)(\( h \) 為普朗克常數,\( \nu \) 為頻率,\( c \) 為光速,\( \lambda \) 為波長),通過檢測能量或波長可定性判斷元素種類;熒光強度與元素含量正相關,是定量分析的基礎。二、核心公式
莫塞萊定律(定性核心):描述元素原子序數(\( Z \))與熒光 X 射線波長(\( \lambda \))的關系,公式為:\( \sqrt} = K(Z - \sigma) \)
定量分析公式:熒光強度(\( I \))與元素含量(\( w \))的線性關系為:\( I = k \cdot w \cdot \frac \)

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